IGBT 模塊壽命評估實驗依據-Power Cycling Test

2023-06-07 13:17:30來源：軟服之家

IGBT模塊概述

(資料圖)

隨著高速動車組列車、電動汽車及其充電樁、5G 通信設備、交直流混合配電網、柔性直流輸電、新能源發電裝置等這些新興科技的迅猛發展，始終離不開電力電子技術的廣泛應用和迭代更新，而作為電能變換與控制核心組件之一的 IGBT 模塊則成為傳統工業升級改造的關鍵。與此同時，電力供電的持續穩定、交通運輸的安全暢通、通信傳遞的及時準確等各行業基本需求對 IGBT 模塊的可靠性也提出了越來越高的要求。

應用于電力電子系統的 IGBT 模塊，由于自身的開通關斷、處理功率的波動性以及外部運行環境的變化，長期承受不均衡的電熱應力，在運行過程中易產生熱疲勞，降低其可靠性。熱疲勞失效是 IGBT 模塊在其正常壽命歷程中始終伴隨的必然失效。壽命評估是提高 IGBT 模塊可靠性的關鍵技術之一。目前行業里公認的評估IGBT模塊壽命的實驗依據是功率循環測試。

IGBT 模塊及其散熱系統結構描述，IGBT 模塊是由多層不同物理材料組成，從上到下依次為硅芯片、芯片焊料層、直接覆銅陶瓷基板（Direct Bonded Copper, DBC）、基底焊料層和銅基板。DBC 的結構為三明治形式，它一般由銅、陶瓷、銅三種材料組成，起到電氣絕緣、機械支撐以及散熱等作用。鍵合線焊接在芯片頂端和引線端子之間，起到電氣連接的作用。此外，為了加快工作時產生的熱量向周圍進行傳遞，導熱硅脂和散熱器會安裝在 IGBT 模塊的底部。

IGBT 模塊及其散熱系統結構圖

當 IGBT 模塊處于正常工作時，電流會流經鍵合線，芯片會產生功率損耗，使得 IGBT 模塊運行溫度升高；又由于 IGBT 模塊的開通和關斷動作以及處理功率的波動性和間歇性，IGBT 模塊內部容易產生溫度變化；加之 IGBT 模塊內部層與層之間的熱膨脹系數不匹配，受到溫度變化作用時，每一層材料膨脹收縮體積不一，容易產生擠壓-拉伸，引起剪切應力和彎曲形變，最終導致 IGBT 模塊熱疲勞失效。

功率循環實驗Power Cycling Test

PC實驗對IGBT模塊的破壞體現在以下幾個方面：引線鍵合失效，焊接層疲勞失效，基板焊層脫落。

功率循環實驗描述

功率循環測試設備既可以對包括IGBT 器件在內的電力電子器件進行功率循環測試即對被測電力電子器件施加應力測試，還可以通過瞬態熱測試對包括IGBT 器件在內的電力電子器件進行熱特性測量。特別是在功率循環測試中通過周期性進行的瞬態熱測試得到的結構函數，和因為功率循環測試設備監控指標值超標而觸發的瞬態熱測試得到的結構函數，可以清晰的顯示出隨著功率循環測試的進行，包括IGBT 器件在內的電力電子器件內部的降級過程。這樣可以實現在在線式的實時監控。

MicRed Power Tester功率循環測試設備支持自動測試和診斷生產環境中功率器件可能的失效原因。能夠對模塊進行數萬甚至數百萬次功率循環，與此同時提供“實時的”失效過程的數據進行診斷。在自動進行功率循環測試時，可以產生分析數據，供實時、在線式的進行失效過程分析。功率循環測試設備的目的在于對電力電子器件應用在其壽命期內的可靠性進行測試，屬于工業化的應用，它是基于先進的T3Ster瞬態熱測試技術實現在同一臺機器上提供全自動瞬態熱阻測試和功率循環測試，同時使用結構函數功能分析記錄封裝的變化或者封裝結構的失效并可以加速封裝的研發，可靠性測試以及生產前零件批量檢測。系統測試得到的器件熱特性的數據能夠在專業的Flotherm/FloEFD散熱仿真軟件中校準和驗證復雜的數據模型。T3Ster +FloTHERM硬軟件結合是行業內實現熱仿真和熱測試自動校準的唯一解決方案。

壽命評估描述

IGBT 模塊的壽命評估一般是指利用壽命預測模型，對一定應用場合下的 IGBT 模塊預期使用壽命進行估算。因此，壽命預測模型對于 IGBT 模塊的壽命評估具有重要研究意義，現有的壽命模型主要有解析壽命模型和失效物理模型兩類。

解析壽命模型一般是通過擬合加速壽命試驗得到的數據，來建立 IGBT 模塊失效前熱循環次數Nf 與電熱參量之間的解析表達式。這些常見的電熱參量包括結溫大小、導通時間和電流幅值等。由于壽命模型通常是基于加速壽命試驗得到的，因此加速因子也需要被考慮。它的含義是指設備在正常工作應力下的壽命與在加速環境下的壽命之比。這些加速因子包括溫度加速因子、電壓加速因子和濕度加速因子等。目前使用較多的解析壽命模型包括 CoffinManson 模型、Lesit 模型、Norris-Landzberg 模型、Bayerer 模型，下面分別對其進行介紹。

（1）Coffin-Manson 模型主要考慮ΔTj 對 IGBT 模塊壽命的影響，其表達式為

式中，λ和 n 可通過擬合試驗數據得到。

（2）Lesit 模型則在 Coffin-Manson 模型基礎上進一步考慮了平均結溫 Tm 的影響，相應的數學表達式為

式中，kB 和 Ea 分別為玻耳茲曼常數和硅芯片的激發能。上述兩個模型側重于考慮結溫與失效前熱循環次數之間的關系，但是前面失效機理研究現狀表明，IGBT 模塊的失效還和一些電氣參量關系緊密。

（3）NorrisLandzberg 模型在計及結溫因素的同時，還研究了熱循環頻率 f 對 IGBT 模塊壽命的作用機制，其計算公式為

式中，ANL、n1、n2 為試驗數據擬合得到的常數。

（4）Bayerer 模型

目前考慮因素最為全面的解析模型為 Bayerer 模型，它不僅考慮了結溫大小的作用，還考慮了以下因素對 Nf 的影響：加熱時間 ton、每根鍵合線通過電流的有效值 I、IGBT 模塊的耐壓值 U、鍵合線的直徑 D，具體表達式為

式中，系數 k1、b1～b6 則是通過擬合加速壽命試驗數據得到。盡管解析壽命模型具有計算簡單、表達直觀等優點，但是由于該類壽命模型的建立僅僅是通過擬合加速壽命試驗數據得到的，因而既沒有體現不同參量之間的物理聯系，也沒有反映出 IGBT 模塊的失效機理。

結語

通過獲得的被測半導體/IGBT 器件的壽命曲線，可以將任務剖面通過電熱仿真模型轉化為溫度曲線，結合溫度雨流算法和累計損傷模型轉化為壽命損耗，能夠準確的評價IGBT 器件應用壽命及剩余壽命，這是國內外絕大部分的IGBT 生產商，比較前端的研究方向。

壽命預期的研究